耗散型石英晶體微天平的檢測(cè)技術(shù)和主要功能特色
點(diǎn)擊次數(shù)：1123 更新時(shí)間：2021-04-15
耗散型石英晶體微天平基于耗散因子檢測(cè)技術(shù)的界面跟蹤探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行分子與界面相互作用的研究，工作時(shí)，先將芯片放置于流動(dòng)池中，將流動(dòng)池固定于樣品平臺(tái)上，樣品平臺(tái)與電子單元和電腦主機(jī)連接，樣品通過(guò)蠕動(dòng)泵流經(jīng)流動(dòng)池中的芯片上方；
芯片振動(dòng)狀態(tài)與芯片上方物質(zhì)的改變量，包括質(zhì)量，厚度，密度和柔軟程度有關(guān)，所以軟件通過(guò)數(shù)學(xué)分析的方法可以獲取芯片上方物質(zhì)的這些變量。測(cè)定吸附層質(zhì)量，并同步提供粘彈性等結(jié)構(gòu)信息。
通過(guò)軟件設(shè)置，電子單元對(duì)芯片兩面施加一個(gè)電壓隨后斷開(kāi)，芯片發(fā)生振動(dòng)、產(chǎn)生電信號(hào)并傳輸回電子單元，振動(dòng)的頻率和振幅記錄在軟件系統(tǒng)里；
當(dāng)樣品流經(jīng)芯片上方，有物質(zhì)吸附在芯片上或者將芯片上的物質(zhì)沖走時(shí)，都會(huì)改變芯片的振動(dòng)狀態(tài)并被記錄下來(lái)。
可測(cè)定多種不同類(lèi)型表面的分子相互作用和分子吸附行為，同時(shí)可檢測(cè)分子的結(jié)構(gòu)變化以及吸附與解析的動(dòng)態(tài)過(guò)程。
耗散型石英晶體微天平的主要功能特色：
(1)作為具有耗散因子檢測(cè)功能的二代石英晶體微量天平，可以對(duì)多種不同類(lèi)型表面的分子相互作用和分子吸附進(jìn)行研究，應(yīng)用范圍包括蛋白質(zhì)、脂質(zhì)、聚電解質(zhì)、高分子和細(xì)胞/細(xì)菌等與表面或與已吸附分子層之間的相互作用。
(2)可以測(cè)定非常薄的吸附層的質(zhì)量，并同步提供如粘彈性等吸附層結(jié)構(gòu)信息。非常靈敏和快速，可提供多個(gè)頻率和耗散因子數(shù)據(jù)，用于充分了解在傳感器表面吸附的分子的狀態(tài)。
